產品壽命可靠性試驗MTBF計算規范
冷熱沖擊試驗箱產品規格：
SET-A3表示沖擊溫度-40℃～+150℃/ A4表示沖擊溫度-55℃～+150℃/A5.表示沖擊溫度-65℃～+150℃
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? 型號 |
SET-A |
SET-B |
SET-C |
SET-D |
SET-G |
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內部尺寸 (W x D x H cm) |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
80×70×60 |
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外部尺寸 (W x D x H cm) |
140×165×180 |
150×190×185 |
160×190×185 |
170×240×195 |
180×260×200 |
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結構 |
三箱式（預冷箱）（預熱箱）（測試箱） |
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溫度恢復時間 |
小于5分鐘（出風口測量） |
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溫度均勻度 |
≤2℃ |
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溫度波動度 |
≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示 |
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溫度偏差 |
±2℃ |
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測試方法 |
三箱法標準//兩箱法標準 |
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冷凍系統 |
機械壓縮二元式 復疊制冷方式 |
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溫度范圍 |
預熱溫度 |
+50～+200℃ |
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高溫暴露 |
+50～+150℃ |
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預冷溫度 |
R.T～-75℃ |
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低溫暴露 |
-40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃ |
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控制器 |
中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（控制軟件自行開發） |
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控制方式 |
靠積分飽和PID，模糊算法 平衡式調溫P.I.D + P.W.M + S.S.R |
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標準配置 |
附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1個 |
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冷卻方式 |
水冷（水溫7℃～28℃，水壓0.1～0.3Mpa），以便確保降溫性能 |
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**保護 |
漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、超載、過電流保護 |
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電源電壓 |
AC380V 50Hz三相四線+接地線 |
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一、目的：
明確元器件及產品在進行可靠性壽命試驗時選用標準的試驗條件、測試方法
二、范圍：
適用于公司內所有的元器件在進行樣品承認、產品開發設計成熟度/產品成熟度（DMT/PMT）驗證期間的可靠性測試及風險評估、常規性ORT例行試驗
三、職責：
DQA部門為本文件之權責單位，責權主管負責本檔之管制，協同開發、實驗室進行試驗，并確保供應商提交的元器件、開發設計產品滿足本文件之條件并提供相關的報告。
四、內容：
MTBF:平均無故障時間
英文全稱:Mean Time Between Failure
定義:衡量一個產品（尤其是電器產品）的可靠性指標,單位為“小時”.它反映了產品的時間質量,是體現產品在規定時間內保持功能的一種能力.具體來說,是指相鄰兩次故障之間的平均工作時間，也稱為平均故障間隔,它僅適用于可維修產品,同時也規定產品在總的使用階段累計工作時間與故障次數的比值為MTBF
MTBF測試原理
1.加速壽命試驗(Accelerated Life Testing)
1.1執行壽命試驗的目的在于評估產品在既定環境下之使用壽命.
1.2 常規試驗耗時較長,且需投入大量的**,而產品可靠性資訊又不能及時獲得并加以改善.
1.3 可在實驗室時以加速壽命試驗的方法,在可接受的試驗時間里評估產品的使用壽命.
1.4 是在物理與時間基礎上,加速產品的劣化肇因,以較短的時間試驗來推定產品在正常使用狀態的壽命或失效率.但基本條件是不能破壞原有設計特性.
1.5 一般情況下, 加速壽命試驗考慮的三個要素是環境應力,試驗樣本數和試驗時間.
1.6 一般電子和工控業的零件可靠性模式及加速模式幾乎都可以從美軍規范或相關標準查得,也可自行試驗分析,獲得其數學經驗公式.
1.7 如果溫度是產品的加速因素,則可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式經常使用.
1.8 引進溫度以外的應力,如濕度,電壓,機械應力等,則為愛玲模型(Eyring Model),此種模式適用的產品包括電燈,液晶顯示元件,電容器等.
1.9反乘冪法則(Inverse Power Law)適用于金屬和非金屬材料,如軸承和電子裝備等.
1.10 復合模式(Combination Model)適用于同時考慮溫度與電壓做為環境應力的電子材料(如電容如下式為電解電容器壽命計算公式)
1.11 一般情況下,主動電子零件完全適用阿氏模型,而電子和工控類成品也可適用阿氏模型,原因是成品燈的失效模式是由大部分主動式電子零件所構成.因此,阿氏模型廣泛應用于電子,工控產品行業。
2.加速因子
R:反應速度speed of reaction
A:溫度常數a unknown non-thermal constant
EA:活化能activation energy (eV)
K:Boltzmann常數,等地8.623*10-5 eV/0K.
T:為優良溫度(Kelvin)
2.1 加速因子原理：加速因子即為產品在使用條件下的壽命(Luse)和高測試應力條件下(Laccelerated)的壽命。
如果產品壽命適用于阿氏模型,則其加速因子為:
AF=e[Ea/K×(1/Ts-1/Tu)]
Ts:室溫+常數273
Tu:高溫+常數273
K: :Boltzmann常數,等地8.623*10-5 eV/0K.
3.加速因子中活化能Ea的計算
3.1 一般電子產品在早夭期失效之Ea為0.2~0.6Ev,正常有用期失效之Ea趨近于1.0Ev;衰老期失效之Ea大于1.0Ev.
3.2 根據HP 可靠度工程部(CRE)的測試規范,Ea是機臺所有零件Ea的平均值.如果新機種的Ea無法計算,可以將Ea設為0.67Ev,做常數處理.
3.3如按機臺所有零件Ea的平均值來計算,則可按以下例證參考
4.MTBF推算方法
4.1. 由MTBF定義可知,規定產品在總的使用階段累計工作時間與故障次數的比值為MTBF, 指數(Exponential)分布是可靠度統計分析中使用普遍的機率分布.指數分布之MTBF數值為失效率λ的倒數,故一旦知道λ值,即可由可靠度函數估算產品的可靠度.
MTBF= 總運行時間Total Operating(Hrs)/總失效次數Total Failures
MTBF的估計值符合卡方分配原理, 其語法為:
T= 總時間Total Hours
r=失效總數Number of failures
Φ=信用等級Confidence interval
5.DMTBF計算
DMTBF:平均無故障時間驗證
英文全稱:Demonstration Mean time Between failures
計算方法:以溫度為加速壽命試驗且采用阿氏加速壽命模式
計算公式:(實際使用中,如需要可在分子上乘上24Hrs以方便計算時數)
Duration =（MTBFspec* GEMfactor）/(DC*Sample size*Afpowr*AF)
Duration:持續測試時間
MTBFspec:平均無故障時間
GEMfactor: General Exponential Model綜合指數
DC: Duty cycle占空比
Sample size:樣本數
Afpower:加速系數
AF:加速因子
5.1. Duration:持續測試時間，即一個單位或幾個單位的樣品在進行壽命試驗時總的需要測試的時間
5.2. GEMfactor: General Exponential Model綜合指數，此指數一般取常數,其取值標準為按照Confidence Level信心水準進行取值,常用的值為80%信心水準取3.22;而90%信心水準時取2.3026.
5.3. DC: Duty cycle占空比，即在試驗進行開關運行過程中,運行時間占總時間的百分比.(如45min ON/15min OFF則其DC值即為:45min/(45min+15min)=0.75
4. Sample size:樣本數，根據實際狀況確認的做壽命試驗的樣品數
5. MTBFSpec:平均無故障時間，實驗品規格書上描述的MTBF時間數
6. AFpower:加速系數，即在實驗品進行開關運行過程中,1小時時間ON和OFF時間之和的比值,如: 實驗品選擇25min ON/5min OFF則Afpower值為:AFpower=60min/(25+5)min=2
7. AF:加速因子,產品在使用條件下的壽命(Luse)和高測試應力條件下(Laccelerated)的壽命的比值
